FLUKE 725Ex 本安型过程校验仪|福禄克Fluke725Ex过程校验仪

30.000 V

0.02%+ 2 个字 （显示屏上部）

30.000 V

0.02%+ 2 个字 （显示屏下部）

100.00 mV

0.02%+ 2 个字

-10.00 mV 至 75.00 mV

0.025 % + 1 个字 （使用热电偶补偿接头）

24.000 mA

0.02%+ 2 个字

0.0 至 400.0 Ω

0.1Ω （4 线）, 0.15Ω （2 线和 3 线）

401 至 1500 Ω

0.5Ω （4 线）, 1Ω （2 线和 3 线）

1500 至 3200 Ω

1Ω （4 线）, 1.5Ω （2 线和 3 线）

2.0 至 1000.0 CPM

0.05 % + 1 个字

1.0 至 1100.0 Hz

0.05 % + 1 个字

1.00 至 10.00 kHz

0.05 % + 1 个字

灵敏度

1 V 峰－峰值，zui小

准确度

参考29款压力?？橹副?，常规指标：0.025% *量程

（详细的技术指标请参考选件和附件部分的压力?？椴糠?/font>）

可提供差分、表压、真空、压力、双压力和高压压力?？?/span>

100.00 mV

0.02%+2 个字

10.000 V

0.02%+2 个字

-10.00 mV 至 75.00 mV

0.025 % + 1 个字 （使用热电偶补偿接头）

24.000 mA （输出）

0.02%+ 2 个字

24.000 mA （模拟）

0.02%+ 2 个字

15.0 至 400.0 Ω

0.15 Ω （激励电流0.15 至 0.5 mA）, 0.1 Ω （激励电流0.5 至 2 mA）

401 至 1500 Ω

0.5 Ω（激励电流0.05 至 0.8 mA）

1500 至 3200 Ω

1 Ω（激励电流0.05 至 0.4 mA）

2.0 至 1000.0 CPM

0.05%

1.0 至 1100.0 Hz

0.05%

1.00 至 10.00 kHz

0.25%

波形：

5 V p-p 方波，-0.1 V 偏置

NI-120

0.2 °C

PT-100 （385）

0.33 °C

PT-100 （393）

0.3 °C

PT-100 （JIS）

0.3 °C

PT-200 （385）

0.2 °C

PT-500 （385）

0.3 °C

PT-1000 （385）

0.2 °C

分辨率

0.1 °C

J:

0.7 °C

K:

0.8 °C

T:

0.8 °C

E:

0.7 °C

R:

1.8 °C

S:

1.5 °C

B:

1.4 °C

L:

0.7 °C

U:

0.75 °C

N:

0.9 °C

分辨率

J, K, T, E, L, N, U: 0.1 °C, 0.1 °F B, R, S: 1 °C, 1 °F

NI-120

0.2 °C

PT-100 （385）

0.33 °C

PT-100 （393）

0.3 °C

PT-100 （JIS）

0.3 °C

PT-200 （385）

0.2 °C

PT-500 （385）

0.3 °C

PT-1000 （385）

0.2 °C

分辨率：

0.1 °C

注：

准确度指标为 4线测量方式下的准确度。

J:

0.7 °C

K:

0.8 °C

T:

0.8 °C

E:

0.7 °C

R:

1.4 °C

S:

1.5 °C

B:

1.4 °C

L:

0.7 °C

U:

0.75 °C

N:

0.9 °C

分辨率

J, K, T, E, L, N, U: 0.1 °C, B, R, S: 1 °C

输出功能：

电压、电流、电阻、频率、温度

斜坡功能

慢斜坡、快斜坡、25%的步进斜坡

电压

24 V

准确度：

10%

zui大电流：

22 mA，短路?；?/font>

输出功能：

电压、电流、电阻、频率、温度

步进

量程的25% 和 99%