TT230涂层测厚仪，TT230氧化膜测厚仪
TT230涂层测厚仪是一种超小型测量仪， TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
TT230 涂层测厚仪符合以下标准：
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT230涂层测厚仪特点
TT230 涂层测厚仪采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换功能；
具有打印功能，可打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
TT230涂层测厚仪技术参数
| 测头类型 | N | |
| 测量原理 | 电涡流 | |
| 测量范围 | 0-1250um/0-40um（铜上镀铬） | |
| 低限分辨力 | 1µm（10um以下为0.1um） | |
| 探头连接方式 | 一体化 | |
| 示值误差 | 一点校准（um） | ±[3%H+1.5] |
| 两点校准（um） | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
| 测量条件 | zui小曲率半径（mm） | 凸3 凹10 |
| 基体zui小面积的直径（mm） | ф5 | |
| zui小临界厚度（mm） | 0.3 | |
| 温湿度 | 0~40℃ | |
| 统计功能 | 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、 | |
| 工作方式 | 直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl） | |
| 测量方式 | 连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） | |
| 上下限设置 | 无 | |
| 存储能力 | 15 个测量值 | |
| 打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | |
| 关机方式 | 自动 | |
| 电源 | 二节3.6V镍镉电池 | |
| 外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
| 重量 | 150g | |
TT230涂层测厚仪配置
主机
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
铝基体
充电器
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