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    ST-20掌上型方块电阻测试仪

    浏览次数:1208更新日期:2020-05-26
    ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
     
    ◆ 特点

    1

     采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定

    2

     低功耗

    3

     采用单个电池供电,带电池欠压指示

    4

     仪器体积仅为:130mmX65mm X23mm

    5

     特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及?;け∧?/span>

    6

     探头带抗静电???/span>
     
    ◆ 技术指标:
     

    测量范围

    基本量程:方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
    扩展量程:方块电阻100-1999(Ω/口)

    测量不确定度

    ≤5%

    探针规格

     探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

    恒流源

     测量过程误差:≤±0.8%

    电源

     9V叠层电池1节
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